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第1章 概述
1.1 低速设计和高速设计的例子
【案例1-1】简化的存储电路模块
1.1.1 低速设计
1.1.2 高速设计
1.2 如何区分高速和低速
1.3 硬件设计流程
1.3.1 需求分析
1.3.2 概要设计
1.3.3 详细设计
1.3.4 调试
1.3.5 测试
1.3.6 转产
1.4 原理图设计
第2章 高速电路中的电阻、电容、电感和磁珠的选型及应用
2.1 电阻的应用
2.1.1 与电阻相关的经典案例
【案例2-1】串联电阻过大，导致板间告警失败
【案例2-2】电阻额定功率不够造成的单板潜在缺陷
【案例2-3】电阻在时序设计中的妙用
2.1.2 电阻应用要点
2.2 电容的选型及应用
2.2.1 与电容相关的经典案例
【案例2-4】电容失效导致低温下硬盘停止工作
【案例2-5】多次带电插拔子板导致母板上钽电容损坏
【案例2-6】高速电路中电容应用问题导致CPU工作不稳定
2.2.2 高速电路设计中电容的作用及分析
【案例2-7】交流耦合电容选择不当引起数据帧出错
【案例2-8】利用0612封装的电容增强滤波性能
【案例2-9】LDO电源应用中的滤波电容ESR问题
【案例2-10】高频电路中1μF+0.01μF是否能展宽低阻抗频带
2.2.3 高速电路设计常用电容及其应用要点
【案例2-11】陶瓷电容选型错误导致单板丢数据包
【案例2-12】根据电路要求进行钽电容选型
2.2.4 去耦电容和旁路电容
2.3 电感的选型及应用
2.3.1 与电感相关的经典案例
【案例2-13】LC低通滤波导致输出电源电压纹波偏大
【案例2-14】大电流通路PI型滤波造成电压衰减
2.3.2 高速电路设计中电感的作用
2.3.3 高速电路设计常用电感及其应用要点
2.4 磁珠的选型及应用
2.4.1 磁珠的滤波机理
2.4.2 高速电路设计中磁珠的选型及其应用要点
【案例2-15】误用磁珠造成过流保护电路失效
2.4.3 磁珠和电感的比较
第3章 高速电路中的逻辑器件选型及高速逻辑电平应用
3.1 与逻辑器件相关的经典案例
【案例3-1】逻辑器件输入端上拉太弱造成带电插拔监测功能失效
3.2 逻辑器件应用要点
3.2.1 逻辑器件概要
【案例3-2】逻辑器件驱动能力过强造成信号振铃
【案例3-3】同一型号逻辑器件的差异性造成PHY配置错误
3.2.2 逻辑器件参数介绍
3.2.3 逻辑器件功耗计算
3.2.4 逻辑器件热插拔功能介绍
3.2.5 逻辑器件使用中注意事项的总结
3.3 高速逻辑电平应用
3.3.1 高速逻辑电平概述
【案例3-4】差分对走线附近信号分布不均衡造成电磁辐射
3.3.2 LNDS逻辑电平介绍及其应用要点
【案例3-5】空闲输入引脚处理有误导致FPGA检测到错误输入
3.3.3 LVPECL逻辑电平介绍及其应用要点
3.3.4 CML逻辑电平介绍及其应用要点
3.3.5 高速逻辑电平的比较
3.3.6 高速逻辑电平的互连及其应用要点
第4章 高速电路中的电源设计
4.1 与电源相关的经典案例
【案例4-1】LDO输出电源电平低于设置值
【案例4-2】电源芯片欠压保护电路导致上电时序不满足设计的要求
【案例4-3】多电源模块并联工作时的均压措施
4.2 高速电路设计的电源架构
4.2.1 集中式电源架构
4.2.2 分布式电源架构
4.3 高速电路电源分类及其应用要点
4.3.1 LDO电源介绍及其应用要点
【案例4-4】计算LDO工作时的结温
【案例4-5】SENSE功能导致电源芯片输出电压不稳定
4.3.2 DC／DC电源介绍及其应用要点
【案例4-6】计算栅极电流
【案例4-7】MOSFET同时导通导致MOSFET损坏
【案例4-8】-48V缓启电路中MOSFET烧坏
【案例4-9】基于ADM1066对多路电源实现监控
【案例4-10】基于LTC1422实现上电速度的控制
【案例4-11】基于电源芯片实现上电速度的控制
【案例4-12】基于RC阻容电路实现延时功能
【案例4-13】上电电流过大引起电感啸叫
【案例4-14】输入电源上电过缓造成输出电源上电波形不单调
4.3.3 电源管理
4.3.4 保险管的选型及应用
【案例4-15】热插拔单板的保险管选型
第5章 高速电路中的时序设计
5.1 时序设计概述
5.2 时序参数介绍
5.3 源同步系统时序设计
5.3.1 源同步系统时序设计原理
5.3.2 源同步系统时序设计范例一
5.3.3 源同步系统时序设计范例二
5.4 共同时钟系统时序设计
5.5 源同步系统与共同时钟系统的比较
第6章 高速电路中的复位、时钟设计
6.1 复位电路设计
6.1.1 与复位电路相关的经典案例
【案例6-1】主控板无法通过PCI-X总线查询到接口板
6.1.2 复位设计介绍及其应用要点
【案例6-2】存储模块读取的错误
6.1.3 专用复位芯片的使用
6.2 时钟电路设计
6.2.1 与时钟电路相关的经典案例
【案例6-3】系统时钟偏快的问题
【案例6-4】PHY寄存器无法读取的问题
【案例6-5】高温流量测试丢包问题
6.2.2 晶体、晶振介绍及其应用要点
【案例6-6】利用首个时钟沿启动组合逻辑导致CPU工作不稳定
6.2.3 锁相环及其应用
【案例6-7】两级锁相环的应用导致MPC8280的PCI时钟失锁
6.2.4 时钟抖动与相位噪声
第7章 高速电路中的存储器应用与设计
7.1 与存储器相关的经典案例
【案例7-1】时序裕量不足导致存储器测试出错
7.2 常用存储器介绍及其应用要点
7.2.1 存储器概述
7.2.2 SDRAM介绍及其应用要点
7.2.3 DDR SDRAM介绍及其应用要点
【案例7-2】DLL缺陷造成DDR SDRAM时序出错
【案例7-3】VREF不稳定造成存储器读写操作出错
7.2.4 DDR2 SDRAM介绍及其应用要点
【案例7.4】CPU存储系统不识别8位内存条的问题
7.2.5 SRAM介绍及其应用要点
【案例7-5】片选处理不当导致SRAM数据丢失
7.2.6 FLASH与EEPROM介绍
【案例7-6】热插拔导致单板FLASH损坏
【案例7-7】读取百兆光模块信息出错
第8章 高速电路中的PCB及其完整性设计
8.1 与PCB及完整性设计相关的经典案例
【案例8-1】回流路径缺陷对高速信号质量的影响
8.2 PCB层叠结构与阻抗计算
8.2.1 Core和PP
8.2.2 PCB的层叠结构和阻抗设计
8.3 高速电路PCB设计要点
8.3.1 PCB设计与信号完整性
【案例8-2】传输线的判断
【案例8-3】反射的计算
【案例8-4】DDR SDRAM设计时，终端电阻RTT布放位置的选择
【案例8-5】大驱动电流信号对高速数据信号的串扰
【案例8-6】高速接口器件批次更换造成辐射超标
【案例8-7】TCK信号出现回沟导致无法通过JTAG接口对CPLD进行加载
8.3.2 PCB设计与电源完整性
8.3.3 PCB设计中的EMC
【案例8-8】网口指示灯信号线引发的辐射问题
【案例8-9】接口芯片与时钟驱动器共用电源，导致辐射超标
8.3.4 PCB设计中的ESD防护
【案例8-10】TVS管布放位置不合理导致静电放电测试失败
【案例8-11】GND和HV_GND混用导致电源控制电路失效
8.3.5 PCB设计与结构、易用性
【案例8-12】网口指示灯排列顺序出错
【案例8-13】网口连接器堆叠方式与易插拔特性
8.3.6 PCB设计与散热
8.3.7 PCB设计与可测试性
参考文献
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